手机上电源ic芯片毁坏的原因

1、充电头輸出规格型号与手机上不符合

仿冒的小输出功率充电头，电流量不足，会被手机上拉跨，充电头不断在起动和拉跨中间颤动，其造成的冲击性非常容易让开关电源IC毁坏。

2、键入工作电压旋光性错误或插反　　规范的插口一般较为难插，反这一概率有，但不高。

3、浪涌冲击性

充电头品质不好得话，在给手机充电全过程中，好似电力网附近有大中型机器设备打开或终止，造成 电力网冲击性。进而使输出电压上累加尖峰浪涌，与遭雷击类似，造成 超出IC極限而毁坏。

4、静电感应毁坏

开关电源芯片的抗压比较有限，一般有ESD电源电路做维护，假如手机设计插口曝露，且无ESD安全防护，则很容易在干躁的自然环境和化学纤维衣服磨擦导致静电感应毁坏，也有应用损坏的数据线，也非常容易使静电感应根据手机充电线毁坏到电池充电IC。